電路板故障檢測儀系統概述：

      可提供多品種的專業級電路板測試、電路板檢測的多功能電路板故障診斷系統。由硬件測試平臺、可編程軟件測試平臺、測試夾具（含夾具、治具）組成。硬件測試平臺由測試單元組成，可根據測試要求擴充測試單元進而擴充系統的測試功能和測試通道。軟件測試平臺可以通過代碼和非代碼編程方式完成測試程序編程，實現測試過程的數據和步驟的存檔保留，形成流程化、標準化、信息化的測試程序，實現系統軟件自動化測試，提高排查故障的準確率和系統的測試效率。

一、BM8600電路板故障檢測儀系統構成：

系統構成概述：

1.系統硬件測試平臺：（各個測試單元可根據測試需要擴充測試模塊以達到需要的測試通道）

1)多電源數字集成電路測試單元（數字電路測試單元）：可擴充：2048路測試通道；

2)模擬集成電路測試單元（模擬器件測試單元）；

3)多功能儀表單元（八合一儀表單元）；

4)三維立體V-I-F動態阻抗測試單元（動態阻抗測試單元）可擴充：2048路測試通道；

5)可編程程控電源單元：可根據測試需要擴充電源通道

6)硬件測試框架；

2.可編輯軟件測試平臺：

1)非代碼編程：測試流程管理，形成流程化、標準化、信息化的測試程序；

2)代碼編程：自動化、半自動化電路板整板測試，實現電路板批量化測試、電路板生產檢驗測試、電路板一致性分析測試。

3.測試夾具：

1)測試夾具：日常手工測試所需要的夾具；

2)治具：電路板整板測試的測試工裝（定制：包括：針床、接口板等）

（一）BM8600電路板故障檢測儀系統硬件測試平臺功能：

1.多電源數字集成電路測試單元（數字電路測試單元）：可擴充：2048路測試通道；單元由ABI-6500模塊*2組成

1)128通道（可擴充至2048通道）

2)數字器件功能測試，管腳電壓，管腳連接狀態，溫度拐點系數，數字V-I測試

3)高級邏輯時序發生器

4)電路板故障高級查找功能

5)短路追蹤（通斷測量）

6)未知型號器件的判別

2.模擬集成電路測試單元（模擬器件測試單元）;單元由ABI-2500模塊*1組成

1)模擬器件V-I曲線測試，矩陣測試；

2)24路測試通道，2通道探筆測試，2通道同步脈沖輸出，3路分立器件測試通道；

3)多種器件的V-I, V-T, I-T曲線測試；

4)模擬集成電路及分立器件測試功能。

3.三維立體V-I-F動態阻抗測試單元（動態阻抗測試單元）可擴充：2048路測試通道;單元由ABI-3400模塊*1組成

1)規格：64路測試通道+4路探棒測試+4組同步脈沖，可切換為32+32路測試模式；

2)提供: V-I-F，V-T-F，V-I, V-T曲線測試；

3)矩陣測試:對管腳間的V-I（阻抗）曲線測試

4)在二維的圖形上可顯示該曲線各點的電氣參數值(V/I)：電壓、電流具體數值；

5)設備可以64通道為步進擴充到2048路測試通道。

4.多功能儀表單元（八合一儀表單元）;單元由ABI-6350模塊*1組成

規格：集成8種常用測試儀器于一體；

1)3通道數字示波器；

2)2通道任意波形發生器；

3)2通道數字電壓表；

4)1通道數字電流表；

5)1通道數字電阻表；

6)1通道頻率計；

7)8通道通用I/O接口；

8)4路固定輸出電源。

5.可編程程控電源單元;單元由ABI-1200模塊*1組成

1)規格：三路可調輸出，可串并聯；

2)通道隔離；

3)每路提供0～±40VDC、8Amax、40Wmax

4)具備過壓、過流保護

5)遠端電壓監測補償功能

6.硬件測試框架：英國原產19英寸機架式含計算機（可以安裝六組模塊）

（二）可編程軟件測試平臺功能

中英文軟件，可通過編程軟件對模塊進行操作控制

1.具有測試流程記憶功能（軟件具有強大的測試流程編輯和記錄功能）

2.測試流程的制定貫穿整個測試過程，使電路測試過程形成標準的測試流程（維修流程、生產流程、 測試流程）。可以按照測試要求，保存流程測試的步驟和數據，形成標準的測試流程。測試工藝的一致性，排除人為因素的干擾。使測試簡單、容易、標準化、工藝化。

3.記錄多種測試信息。軟件可將標準電路板上測量到的管腳電壓、連接關系、功能測試結果等  信息以及V-I和V-T曲線圖都存儲記錄到測試流程中，方便隨時與其他電路板進行對比，大大簡化了測試中需要重復對比的工作。

4.軟件在測試流程中允許用戶加入對測試步驟的文字說明、照片、Office Word、Office Excel、PDF文檔、網頁鏈接、視頻等，大大提升了測試效率。

5.圖形化測試庫編輯器，圖形化定義輸入激勵信號及測試記錄輸出的標準響應信號，快速建立元器件與電路板測試庫，元器件與整板測試庫擴充簡單、快捷. 非專業人員可以快速擴充測試庫。

6.*測試數據記錄并生成自定義檢測報告。系統的測試數據可以根據需要定制生成自定義測試報告。測試報告可以包含用戶關注的測試數據與測試結果。生成用戶測試報告，方便測試數據的保存。

7.*中文、英文測試操作軟件，中文軟件漢化到各級菜單（漢化版），提供免費軟件的升級服務；

8.智能化編程，通過TFL編輯器，可對測試的每個步驟進行編程，TFL編輯器包括：WHILE、IF、STARTLOGDB、WRITELOGDB、SYSTEM等21個編程命令。

（三）測試夾具功能

1.測試夾具附件，包括：DIL等多種器件測試夾具1套（日常手工測試所需要的夾具）；

2.治具需要定制服務：電路板整板測試的測試工裝（包括：針床、接口板等）；

3.可選配件：SOIC測試夾具、離線測試盒、分立器件測試探筆套裝等。

二、BM-8600電路板故障檢測儀系統功能特點

1.*硬件系統模塊化設計，可根據要求擴充測試模塊和測試通道。

2.*軟件系統測試過程流程化設計，可以通過非編程方式實現測試過程流程化：保存流程測試的步驟和數據，形成標準的測試流程。以后的測試就

3.按照流程步驟進行測試，得出相應的結果，并形成數據對比報告。測試流程的制定貫穿整個測試過程，并不斷測試流程。實時將測試經驗、測試信息擴充到測試流程工藝中。完成了流程化設計的電路板可以實現人工快速、半自動化故障排查及板級系統測試，提高排故和測試效率。

4.*測試數據記錄并生成自定義檢測報告。系統的測試數據可以根據需要定制生成自定義測試報告。測試報告包含用戶關注的測試數據與測試結果。生成用戶測試報告，方便測試數據的保存。

5.*多電源數字電路測試模塊具備64通道數字集成電路在線、離線功能測試（可擴充到2048通道），每個通道可以根據需要分別獨立定義為：輸入/電壓測量、輸出/信號驅動或V/I曲線測量；可進行自定義測試，器件與整板的自定義仿真測試。

6.*具備閾值電平臨界點掃描測試功能，確定標準板電平臨界值，可以檢查故障板器件的穩定性。

7.系統可對多種器件進行端口測試： V-I、V-T、V-I-F測試.二維V-I測試低達1Hz頻率，三維測試頻率高達到10kHz, 非常合適測試電感及高頻電容器件。可設定同步脈沖信號的幅值與寬度, 進行可控硅元器件或FET的功能測試。

8.變頻三維立體V-I-F測量方式，三維立體顯示器件的端口特性曲線，可以查找與器件頻率有關的故障。檢查與頻率特性有關的器件或電路板，三維立體圖形測量測量方式，適合數字及模擬集成電路與電路板的測試。

9.*系統各個模塊在同一個專業平臺操控下同時運行，完成流程化、步驟化、標準化測試并生成自定義測試報告。

10.*集成8種測試儀器于一體：3通道數字示波器、2通道任意波形發生器、2通道數字電壓表、1通道數字電流表、1通道數字電阻表、1通道頻率計、8通道通用I/O接口、4路輔助電源。8種常規測試儀器可以并發操作，步驟過程可以記錄存儲并可對比，測試數據可以量化，并可以形成測試報告，可對電路板進行仿真測試、調試測試、一致性測試等整板測試。

11.可編程程控電源模塊具備3通道隔離電源輸出，電源輸出由系統軟件來控制，三個通道可以支持串并聯以增加電壓和電流的輸出范圍。電源供應器模塊可根據流程設計，自動開啟和關閉測試所需的電源。電源配合其他模塊使用，可實現整板測試與多電源測試的流程自動化。

12.多達上萬種的數字器件測試庫，測試器件庫涵蓋常用的器件。也可以通過圖形化器件編輯器快速擴充與自定義器件測試庫。可以通過圖形化器件編輯器定義輸入激勵信號及測試輸出的標準響應信號，快速批量建立元器件和整板測試庫。

13.系統含有模擬器件測試庫，可對放大器、比較器、二極管、三極管、晶閘管、場效應晶體管、光耦器件、AD和DA數模轉換器件等模擬集成電路進行功能測試。 可進行光耦合器及繼電器元器件的速度功能測試等。

14.系統可對多種器件進行端口測試：V-I、V-T、I-T測試。測試頻率高達到12kHz, 非常合適測試電感及高頻電容器件。可設定同步脈沖信號的幅值與寬度, 進行可控硅元器件或FET的功能測試.

三、BM8600電路板故障檢測儀系統單元模塊特點

1.多電源數字集成電路測試的高級測試模塊(ABI-6500)

該模塊具有64個測量通道,可提供多種的測量功能。這些通道可提供故障診斷能力，包括數字集成電路功能測試(在線/離線測試),集成電路管腳的連接狀態和電壓值的測量,以及在非加電情況下使用的V-I曲線測試功能，是數字集成電路測試的高級測試模塊。系統提供的信息更豐富、更準確、測試條件更豐富。仿真測試輸入電壓可以根據需要-10V～+10V之間自己定義，檢測輸出的電平閾值也可以自己定義。ABI-6500模塊可以更好的檢測測試庫以外的元器件,實現電路板仿真測試更加方便快捷。

2.模擬電路測試功能模塊(ABI-2500) 

在模擬集成電路測試模塊中允許對模擬集成電路和分立器件進行功能測試。常見的模擬集成電路可以測試，系統會依照集成電路在PCB上的電路型態進行功能測試,不需要編輯程序或參考電路圖。在該模塊中還包括了V-I曲線測試功能，電路板或集成電路可在非加電的情況下，得到清楚易懂的圖形化測試結果.。ABI-2500模塊包含標準模擬器件參數測試庫。

3.三維立體矩陣式V-I-F動態阻抗混合電路測試模塊（ABI-3400）

規格：64通道，首創三維立體V-I-F測試，適合檢測與頻率相關的器件特性，強大的矩陣式測試，測試通道可擴展(以64通道步進擴展，高達2048通道)，同步脈沖測試模式，可制定標準的測試流程及步驟。

4.八合一多功能儀表模塊(ABI-6350) 

在八合一多功能儀表模塊中，提供了多種高規格的測試及測量用的儀表功能在同一模塊之中。此種設計方式適合用于教育及一般用途的電子測量使用。其模塊提供了八種常用儀表功能：3通道數字示波器、2通道任意波形發生器、2通道數字電壓表、1通道數字電流表、1通道數字電阻表、4通道頻率計、8通道通用I/O接口、4路輔助電源.且操作者可以利用軟件的自定儀器平臺功能,來設計定制化的儀器操作接口。

5.系統用可調式電源供應器模塊(ABI-1200) 

此模塊可提供集成電路或電路板在進行測試時電源。其具有三組可調式隔離電源輸出,三個通道支持串并聯，遠端電壓監測補償，并同時具有過電壓及過流保護功能。

四、BM8600電路板故障檢測儀系統單元模塊主要技術指標

1.多電源數字集成電路測試模塊: (6500模塊*1個)

1.1測試通道數 : 64測試通道（可擴至2048通道）

1.2具有數字V-I曲線測試功能，64路測試通道（可擴至2048通道）

1.3總線隔離信號通道：8通道（4邏輯高+4邏輯低）

1.4可設定輸出的邏輯信號電平范圍 : -10V ～ +10VDC

1.5具自動掃描目前工作的數字邏輯電平閾值功能

1.6邏輯時序發生器：64通道（可擴至2048通道），模式數 999個/通道

1.7 64個通道可以獨自定義為：輸入（測量）和輸出（驅動），輸出信號范圍：-10V～+10V，輸入信號范圍：+20V ～ -20VDC

2.模擬電路測試模塊：(2500模塊)

2.1 V-I測試性能

測量通道：2路探棒通道，2路同步脈沖信號通道，24路測試夾具通道，3路分立器件測試通道；

V-I曲線測試掃描電壓范圍：2～50Vp-p；

V-I曲線測試掃描頻率范圍：37.5Hz～12kHz；

V-I曲線測試阻抗范圍：100Ω～1MΩ；

V-I曲線測試信號波形：正弦波、三角波、斜波；

顯示曲線模式：V-I、V-T、I-T；

測試方式：學習對比、探棒實時對比、矩陣測試；

同步脈沖信號幅度：-10V～+10V； 

同步脈沖輸出模式：正脈沖、負脈沖、雙向脈沖、DC；

2.2模擬集成電路及分離組件測試功能

測量通道數：24個獨立測試通道；

驅動輸出電壓：-12V～+12V；

驅動輸出電流：200mA；

可量測輸入電壓：±24V；

IC測試封裝型態：OP放大器、比較器、DACs、ADCs；

IC測試方式：在線測試, 若OPA工作在線性區, 則可自動計算出放大率(Av)；

晶體管測試能力：晶體管、FET、TRIACS、THYRISTOR；

3.系統用可調式電源供給模塊功能: (1200模塊)

電源供應輸出控制可由軟件來手動控制開關；

3通道獨立；

每通道：0～40VDC max, 0～8A max, 40W max；

支持串并聯，以便增加電壓和電流供應；

4.八合一多功能儀表模塊性能：(6350模塊)

 4.1數字儲存示波器

測試通道：3路測試通道；

帶寬：100MHz；

采樣速率：500MS/s (25GS/s ERS 模式)；

輸入阻抗：1MΩ；

4.2函數信號產生器：

測試通道：2通道；

輸出波形：DC、正弦波、方波、三角波、正脈沖、負脈沖；

輸出頻率范圍：0.5Hz～25MHz；

輸出阻抗：50?；

4.3通用 I/O：

通道數：8路通用I/O通道；

信道模式：電壓輸出、電壓輸入；

提供CMOS、LVCMOS、ECL、TTL、LVTTL邏輯電平的預設值；

4.4電壓表

測量通道：2通道；

直流電壓測量范圍：0～±500V；

交流電壓測量范圍(50～60Hz(TRUE RMS,AC or AC+DC))：0～500V；

顯示分辨率：4? Digits 20,000 Count；

4.5電流表：

測量通道：1通道；

直流電流測量范圍：0～±10A；

交流電流測量范圍(50～60Hz(TRUE RMS,AC or AC+DC))：0～10A；

顯示分辨率：4? Digits 20,000 Count；

4.6電阻表：

測量通道：1通道；

測量范圍：0～10MΩ；

連續性：0Ω～ 1kΩ，分辨率：100mΩ；

二極管：測量范圍：0V～2V；分辨率：100μV；測試電流：1mA；

顯示分辨率：4? Digits 20,000 Count；

4.7頻率計數器

測量通道：1路用通道+3路DSO共用通道；

頻率測量范圍：通道：1MHz～800MHz；DSO通道：2Hz～100MHz；

輸入阻抗：通道：50Ω；DSO通道：1MΩ；

電壓輸入范圍：通道：±3.3V；DSO通道：±40mV～±8V。；

4.8輔助電源:

電壓輸出：+5V,+3.3V,+12V,-12V；

電流限制：+5V/1A；+3.3V/1A,+12V/100mA,-12V/100mA；

5.三維立體矩陣式V-I-F動態阻抗混合電路測試模塊  (3400模塊*1個)

5.1測試通道：4路探棒通道，4路同步脈沖通道，64路夾具測試通道；

5.2 V-I曲線掃描電壓范圍：2～50Vp-p（2、5、10、20、50Vp-p）；

5.3 V-I曲線掃描頻率設定范圍：1Hz～10kHz（可以1Hz為步進設定）；

5.4 V-I曲線測試阻抗范圍：100Ω～1MΩ（100、1k、10k、100k、1MΩ）；

5.5 三維 V-I-F曲線掃描頻率范圍：10Hz～10kHz（可以1Hz為步進設定）；

5.6 顯示曲線模式：V-I、V-T、V-I-F、V-T-F；

5.7 測試方式：存儲對比、探棒實時對比、矩陣測試；

5.8 同步脈沖輸出設定：單脈沖、雙脈沖、三脈沖、四脈沖；

5.9 同步脈沖信號幅度：-10V～+10V，調整分辨率0.01V；

五、BM8600電路板故障檢測儀系統主要優勢

1.模塊化設計：可以自由擴充，可拆分，可以滿足不同客戶的需求。模塊化設計，可以將可拆分、組合成小儀器使用

2.軟件具測試流程記憶功能

ABI的BM-8600采用嶄新的測試理念，測試流程的制定貫穿整個測試過程，使電路測試的過程形成標準的測試流程（維修流程、生產流程、檢測流程）。

可以按照測試要求，保存流程測試的步驟和數據，形成標準的測試流程。

以后的測試就按照標準的流程按步驟進行測試，得出相應的結果，并形成數據對比報告。

測試工藝的一致性，排除人為因素的干擾。半熟練的工程人員只需要按部就班的依指示及圖示來操作設備，便可以完成的檢測工作。使測試簡單、容易、標準化。

3.對電路板和集成電路可同時進行多種并發測試操作。

包括功能測試，V-I曲線測試，溫度拐點系數測試，連接狀態測試，管腳電壓測試。并且提供豐富的測試結果信息，測試效率大大提高。

1）可同一時間完成多種測試，該測試提供信息豐富，節省測試時間。

2）測試項目：集成電路的功能測試、V-I曲線測量、曲線拐點溫度變化系數、各個管腳電壓值測量、管腳連接狀態測量顯示。

4.圖形化編輯元件測試庫和整板測試庫

采用圖形化編程，方便以后擴充元件庫和電路板庫，方便快捷的建立起測試庫中沒有的元件庫。

圖形化元件測試庫編輯,輸入輸出各個測試通道的邏輯時序可以由測試者圖形化自定義編輯，方便快捷建立起測試庫中沒有的元件庫。

整板測試非常簡單，通過圖形化的測試庫編輯器，根據電路板原理，定義輸入激勵信號及輸出的標準響應信號，快速建立板測試庫，快速批量檢測電路板的功能。

5.可測試拐點溫度變化系數

V-I曲線測試,可以觀測曲線拐點溫度變化系數,易于發現一些器件的非固定性故障(或稱為軟故障)。

6.具短路電阻測量功能

短路電阻測量功能：

三段低電阻測量范圍,可以用圖像及聲音的變化來表示電阻值大小,并自動探棒校正功能。此功能可以用以檢查電路板線路的電阻值,檢查短路點，可判定線路阻抗及通斷情況。

7.可邏輯電平閾值自動掃描

邏輯電平閾值自動掃描,確定板系統邏輯電平閾值臨界值,設定循環測試來發現不穩定的錯誤.

1)邏輯電平閾值自定義。可以設定非標準的邏輯電平閾值，檢查不穩定的元器件。

2)邏輯電平閾值可以自動掃描,確定板系統邏輯電平閾值臨界值,設定循環測試來發現不穩定的錯誤。

邏輯電平閾值自動掃描：邏輯高低電平是一個范圍，該種方法是確定集成電路在板系統中能通過的電平具體數值，該數值能反映出集成電路驅動能力的下降問題，方便查找驅動能力下降的器件。

8.V-T模式可測量器件的開關時間特性（配合同步脈沖）

?可設定同步脈沖信號的寬度,進行可控硅元器件或FET的功能測試.

?測試時將設定好的方波同步到測試信號中，可以觀測到三端器件開關時間特性的差異，圖中是高頻狀態，器件的開關時間參數出現問題，圖中的差異體現了開關時間的問題。

9.V-I曲線矩陣測試

分別以每個管腳為公共端進行V-I測試，可針對管腳間的阻抗曲線進行測試發現管腳間的阻抗差異，使測量的信息更豐富準確。

10.具有分立器件功能測試

1）模擬集成電路測試功能：可對模擬放大器、比較器、二極管、三極管、晶閘管、場效應管、場效應晶體管場效應晶體管場效應晶體管光耦器件、AD/DA數模轉換器件等模擬集成電路進行功能測試.

2）可以對模擬器件的參數指標值進行在線測量：放大倍率 (AV) CTR值 (電流轉換比) 、Vled (內部光二極管的導通電壓值、Hfe值 (晶體的電流放大倍率)等參數值。

11.波套設計

八合一多功能儀表6350-示波器功能-波套

?信號波形通過對比

12.將波形保存成測試步驟（生成測試數據庫）

13.變頻三維立體V-I-F測量方式，三維立體顯示器件的端口特性曲線，可以查找與器件頻率有關的故障。檢查與頻率特性有關的器件或電路板。

14.動態阻抗分析功能，可以對圖形進行電壓、電流參數的測量